ADVANTEST CORP. REGISTERED SHARES O.N.

WKN: 868805 - ISIN: JP3122400009

09:04 Uhr 18.10.2017

17,73 -0,15
-0,82 %
Eröffnung 17,73
Tageshoch 17,73
Tagestief 17,73
Vortag 17,73
Gehandelte Stück 0
52W-Hoch 18,47
52W-Tief 11,73

Fundamentalkennzahlen

2016 2017e 2018e
KGV 61,57 27,92 --
KCV 60,98 16,69 --
KUV -- 2.650,55 --
Dividendenrendite -- 1,09 --
Dividende je Aktie 0,15 0,20 --
Gewinn je Aktie 0,29 0,63 --
Marktkapitalisierung -- 4 Mrd. --

Aktionärsstruktur

Streubesitz 42,52%
The Master Trust Bank of Japan, Ltd. 14,57%
Japan Trustee Services Bank, Ltd. 13,89%
treasury shares 12,52%
Mitsuho Trust & Banking Co., Ltd. 11,53%
Trust & Custody Services Bank, Ltd. 3,27%
BNP Paribas Securities (Japan) Limited 1,70%

Historische Fundamentalkennzahlen

2016 2015 2014 2013 2012
Ausstehende Aktien in Mio. (verwässert)174,57174,20174,20173,79173,27
Ausstehende Aktien in Mio.199,57199,57-870,94199,57
Gewinn je Aktie38,35-21,93--4,52-12,67
Ergebnis je Aktie verwässert87,67--204,10-22,03-12,67
Dividende je Aktie20,0015,0020,0015,000,15
Dividende2.491,002.612,973.483.958,843.475,8625.990,71

Nachrichten

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Handelsplätze

Börse Letzter Tagestief Tageshoch Volumen ± % Datum Zeit
Frankfurt 17,73 17,73 17,73 0 -0,82 % 18.10. 09:04
Düsseldorf 17,73 17,73 17,73 0 -0,73 % 18.10. 08:10
Berlin 17,77 17,77 17,77 0 -0,56 % 18.10. 08:07
München 17,99 17,99 17,99 0 ±0,00 % 18.10. 08:07
Stuttgart 17,80 17,80 17,80 0 -0,54 % 18.10. 08:02
Lang & Schwarz 17,43 17,43 17,43 115 +27,97 % 04.10. 22:56

Unternehmensprofil ADVANTEST

Advantest bezeichnet sich selbst als den weltweit führenden Anbieter von Prüf- und Messverfahren. Die Gruppe verfügt über sechs Geschäftsbereiche. "Halbleiter- und Komponententestsysteme" werden verwendet, um die Qualität von Halbleitergeräten, die in Smartphones, PCs, Autos und anderen vertrauten elektronischen Produkten genutzt werden, zu gewährleisten. "Mechatronische Systeme" werden in der Halbleiterentwicklung und Verarbeitung, einschließlich Lithographieanlagen und Wafer-Testsysteme, verwendet. "Factory Automation" Testprozeduren verbessern Halbleiterherstellungseffizienz durch automatisches Laden von Geräten in das Testsystem, die dann mit geordnet und sortiert werden. "Geräteschnittstellen" sind Produkte, die das Gerät mit der Tester-Schnittstelle verbinden, so dass die Funktionen des Gerätes getestet werden können. "Nanotechnology" bietet Elektronenstrahl-Lithographiesysteme, die nanoskalige Schaltungsstrukturen, Nanoimprint Vorlagen und andere Substrate sowie Messsysteme auf Halbleiterwafern ätzen. "Services, Support und andere" runden das Angebot ab. ...

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Vorstand / Aufsichtsrat

Vorstand

Hans-Jürgen Wagner, Hiroshi Nakamura, Koichi Tsukui, Sae Bum Myung, Satoru Nagumo, Shinichiro Kuroe, Soichi Tsukakoshi, Yoshiaki Yoshida

Aufsichtsrat

Megumi Yamamuro, Osamu Karatsu, Seiichi Yoshikawa, Yasushige Hagio, Yuichi Kurita