ADVANTEST CORP. REGISTERED SHARES O.N.

WKN: 868805 - ISIN: JP3122400009

08:03 Uhr 26.05.2017

15,33 +0,10
+0,68 %
Eröffnung 15,33
Tageshoch 15,33
Tagestief 15,33
Vortag 15,33
Gehandelte Stück 0
52W-Hoch 18,35
52W-Tief 9,07

Fundamentalkennzahlen

2016 2017e 2018e
KGV 49,64 20,58 --
KCV 49,17 17,36 --
KUV -- 2.189,23 --
Dividendenrendite -- 1,34 --
Dividende je Aktie 0,16 0,20 --
Gewinn je Aktie 0,31 0,74 --
Marktkapitalisierung -- 3 Mrd. --

Aktionärsstruktur

Streubesitz 42,52%
The Master Trust Bank of Japan, Ltd. 14,57%
Japan Trustee Services Bank, Ltd. 13,89%
treasury shares 12,52%
Mitsuho Trust & Banking Co., Ltd. 11,53%
Trust & Custody Services Bank, Ltd. 3,27%
BNP Paribas Securities (Japan) Limited 1,70%

Historische Fundamentalkennzahlen

2016 2015 2014 2013 2012
Ausstehende Aktien in Mio. (verwässert)174,57174,20174,20173,79173,27
Ausstehende Aktien in Mio.199,57199,57-870,94199,57
Gewinn je Aktie38,35-21,93--4,52-12,67
Ergebnis je Aktie verwässert87,67--204,10-22,03-12,67
Dividende je Aktie20,0015,0020,0015,000,15
Dividende2.491,002.612,973.483.958,843.475,8625.990,71

Nachrichten

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Handelsplätze

Börse Letzter Tagestief Tageshoch Volumen ± % Datum Zeit
Düsseldorf 15,32 15,32 15,32 0 +0,62 % 26.05. 08:41
Frankfurt 15,33 15,33 15,33 0 +0,68 % 26.05. 08:03
Stuttgart 15,40 15,40 15,40 0 +0,73 % 26.05. 08:03
Berlin 15,34 15,34 15,34 0 +0,52 % 26.05. 08:03
München 15,50 15,50 15,50 0 ±0,00 % 26.05. 08:03
Lang & Schwarz 15,72 15,72 15,72 250 -3,19 % 17.05. 22:56

Unternehmensprofil ADVANTEST

Advantest bezeichnet sich selbst als den weltweit führenden Anbieter von Prüf- und Messverfahren. Die Gruppe verfügt über sechs Geschäftsbereiche. "Halbleiter- und Komponententestsysteme" werden verwendet, um die Qualität von Halbleitergeräten, die in Smartphones, PCs, Autos und anderen vertrauten elektronischen Produkten genutzt werden, zu gewährleisten. "Mechatronische Systeme" werden in der Halbleiterentwicklung und Verarbeitung, einschließlich Lithographieanlagen und Wafer-Testsysteme, verwendet. "Factory Automation" Testprozeduren verbessern Halbleiterherstellungseffizienz durch automatisches Laden von Geräten in das Testsystem, die dann mit geordnet und sortiert werden. "Geräteschnittstellen" sind Produkte, die das Gerät mit der Tester-Schnittstelle verbinden, so dass die Funktionen des Gerätes getestet werden können. "Nanotechnology" bietet Elektronenstrahl-Lithographiesysteme, die nanoskalige Schaltungsstrukturen, Nanoimprint Vorlagen und andere Substrate sowie Messsysteme auf Halbleiterwafern ätzen. "Services, Support und andere" runden das Angebot ab. ...

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Vorstand / Aufsichtsrat

Vorstand

Hans-Jürgen Wagner, Hiroshi Nakamura, Koichi Tsukui, Sae Bum Myung, Satoru Nagumo, Shinichiro Kuroe, Soichi Tsukakoshi, Yoshiaki Yoshida

Aufsichtsrat

Megumi Yamamuro, Osamu Karatsu, Seiichi Yoshikawa, Yasushige Hagio, Yuichi Kurita