ADVANTEST CORP. REGISTERED SHARES O.N.

WKN: 868805 - ISIN: JP3122400009

09:01 Uhr 13.12.2018

16,30 +0,16
+0,99 %
Eröffnung 16,30
Tageshoch 16,30
Tagestief 16,30
Vortag 16,30
Gehandelte Stück 0
52W-Hoch 21,37
52W-Tief 13,87

Fundamentalkennzahlen

2018 2018e 2019e
KGV 20,59 8,66 --
KCV 14,70 9,90 --
KUV -- 1,56 --
Dividendenrendite 1,06 3,19 --
Dividende je Aktie 0,17 0,58 --
Gewinn je Aktie 0,78 1,86 --
Marktkapitalisierung 3 Mrd. -- --

Aktionärsstruktur

Streubesitz 48,54%
The Master Trust Bank of Japan, Ltd. 24,49%
Japan Trustee Services Bank, Ltd. 10,62%
treasury shares 10,29%
THE BANK OF NEW YORK 133524 3,06%
Trust & Custody Services Bank, Ltd. 3,00%

Historische Fundamentalkennzahlen

2018 2017 2016 2015 2014
Ausstehende Aktien in Mio. (verwässert)--174,57174,20174,20
Ausstehende Aktien in Mio.199,57199,57199,57199,57-
Gewinn je Aktie101,1237,8638,35-21,93-
Ergebnis je Aktie verwässert92,69-87,6767,16-204,10
Dividende je Aktie22,0023,0020,0015,0020,00
Dividende3.938,614.023,003.491,002.612,973.483.958,84
Aktuell ausstehende Aktien199,57----

Nachrichten

Keine Nachrichten vorhanden

Handelsplätze

Börse Letzter Tagestief Tageshoch Volumen ± % Datum Zeit
Stuttgart 15,92 15,92 15,92 0 -2,57 % 14.12. 08:01
Düsseldorf 16,30 16,27 16,30 0 +1,05 % 13.12. 17:05
Frankfurt 16,30 16,30 16,30 0 +0,99 % 13.12. 09:01
Berlin 16,38 16,38 16,38 0 +0,49 % 13.12. 08:12
München 16,36 16,36 16,36 0 +0,61 % 13.12. 08:12
Lang & Schwarz 16,42 16,42 16,42 300 -9,71 % 11.12. 22:04

Unternehmensprofil ADVANTEST

Advantest bezeichnet sich selbst als den weltweit führenden Anbieter von Prüf- und Messverfahren. Die Gruppe verfügt über sechs Geschäftsbereiche. "Halbleiter- und Komponententestsysteme" werden verwendet, um die Qualität von Halbleitergeräten, die in Smartphones, PCs, Autos und anderen vertrauten elektronischen Produkten genutzt werden, zu gewährleisten. "Mechatronische Systeme" werden in der Halbleiterentwicklung und Verarbeitung, einschließlich Lithographieanlagen und Wafer-Testsysteme, verwendet. "Factory Automation" Testprozeduren verbessern Halbleiterherstellungseffizienz durch automatisches Laden von Geräten in das Testsystem, die dann mit geordnet und sortiert werden. "Geräteschnittstellen" sind Produkte, die das Gerät mit der Tester-Schnittstelle verbinden, so dass die Funktionen des Gerätes getestet werden können. "Nanotechnology" bietet Elektronenstrahl-Lithographiesysteme, die nanoskalige Schaltungsstrukturen, Nanoimprint Vorlagen und andere Substrate sowie Messsysteme auf Halbleiterwafern ätzen. "Services, Support und andere" runden das Angebot ab. ...

mehr lesen

Vorstand / Aufsichtsrat

Vorstand

Atsushi Fujita, Douglas Lefever, Hans-Jürgen Wagner, Keith Hardwick, Koichi Tsukui, Sae Bum Myung, Satoru Nagumo, Shunsuke Kato, Soichi Tsukakoshi, Yoshiaki Yoshida

Aufsichtsrat

Megumi Yamamura, Osamu Karatsu, Seiichi Yoshikawa, Tsuneko Murata, Yuichi Kurita